澤攸ZEM20電鏡：觀察非導電材料的考量

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澤攸ZEM20電鏡：觀察非導電材料的考量
掃描電鏡觀察中，非導電樣品（如塑料、陶瓷、生物組織、未涂層絕緣材料等）容易因電荷積累（荷電效應）導致圖像畸變、漂移或過亮，影響觀察效果。澤攸ZEM20在設計中，對非導電和弱導電樣品的觀察需求給予了相應考量，旨在拓寬其應用材料的范圍。

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更新時間：2026-01-20

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澤攸ZEM20電鏡：觀察非導電材料的考量

掃描電鏡觀察中，非導電樣品（如塑料、陶瓷、生物組織、未涂層絕緣材料等）容易因電荷積累（荷電效應）導致圖像畸變、漂移或過亮，影響觀察效果。澤攸ZEM20在設計中，對非導電和弱導電樣品的觀察需求給予了相應考量，旨在拓寬其應用材料的范圍。

傳統上，觀察非導電樣品通常需要對樣品進行噴金或噴碳處理，覆蓋一層薄薄的導電膜。這需要額外的鍍膜設備，增加了樣品制備的步驟和時間。澤攸ZEM20通過采用特定的電子光學設計和信號探測方案，可以在較低加速電壓下進行穩定成像。較低的束流能量有助于減少電荷在樣品表面的積累，從而在某種程度上允許用戶對一些非導電樣品進行直接觀察，或是在無需很厚導電膜的情況下獲得可用圖像。

這一特性在許多領域具有實用價值。在高分子材料研發中，研究人員可以直接觀察塑料、橡膠或其復合材料的斷面形貌、填料分布、裂紋擴展路徑，而無需擔心鍍膜掩蓋原始表面細節或引入假象。在考古和文物研究領域，對珍貴的、不允許破壞性處理的樣品（如陶瓷碎片、古生物化石）進行直接無損觀察成為可能。在生物領域，觀察一些干燥的生物樣品（如植物葉片、昆蟲部位、骨骼樣品）時，流程也得以簡化。

當然，需要客觀認識的是，對于所有非導電樣品實現wan美無電荷的成像是一個挑戰，效果會因樣品成分、形貌、含水量等因素而異。澤攸ZEM20提供的是一種改進的、更友好的觀察條件。對于荷電效應明顯的樣品，配合輕微的噴金處理通常能獲得更佳效果，但所需的鍍膜厚度可能比傳統高電壓電鏡更薄，處理更快捷。

因此，澤攸ZEM20在非導電材料觀察方面的設計，體現了其追求更高適用性和操作便利性的思路。它讓用戶在面對多樣化的樣品時，有了更多的選擇空間和靈活性。用戶可以先嘗試直接觀察，若效果理想則省去鍍膜步驟；若需要，再進行快速輕度的鍍膜處理。這種“先嘗試，后處理"的工作流程，尤其適合需要快速篩查多種未知樣品，或樣品本身不適合復雜制備的場景，進一步體現了桌面電鏡“便捷、快速"的核心價值。

澤攸ZEM20電鏡：觀察非導電材料的考量

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