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當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心三維光學(xué)輪廓儀SENSOFAR共聚焦白光干涉儀共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2 工作原理簡(jiǎn)述

共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2 工作原理簡(jiǎn)述

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2 工作原理簡(jiǎn)述
理解共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2的工作原理,有助于更好地應(yīng)用它來(lái)應(yīng)對(duì)不同的測(cè)量場(chǎng)景。它本質(zhì)上是一個(gè)光學(xué)三維測(cè)量系統(tǒng),其核心能力源自共聚焦和白光干涉這兩種物理光學(xué)技術(shù)的結(jié)合與互補(bǔ)。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2026-02-02
廠商性質(zhì):代理商
訪問(wèn)量:39
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共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2 工作原理簡(jiǎn)述

理解共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2的工作原理,有助于更好地應(yīng)用它來(lái)應(yīng)對(duì)不同的測(cè)量場(chǎng)景。它本質(zhì)上是一個(gè)光學(xué)三維測(cè)量系統(tǒng),其核心能力源自共聚焦和白光干涉這兩種物理光學(xué)技術(shù)的結(jié)合與互補(bǔ)。
共聚焦測(cè)量模式:
這種模式主要利用光學(xué)層析原理。系統(tǒng)使用一個(gè)點(diǎn)光源(通常是LED或激光二極管)照射樣品,并通過(guò)一個(gè)共軛的針孔來(lái)探測(cè)反射光信號(hào)。只有當(dāng)樣品表面某一點(diǎn)精確位于物鏡的焦平面上時(shí),該點(diǎn)的反射光才能最大限度地通過(guò)針孔被探測(cè)器接收。當(dāng)樣品在垂直方向(Z軸)被掃描時(shí),系統(tǒng)記錄下每一個(gè)X-Y位置點(diǎn)光強(qiáng)信號(hào)達(dá)到最大值時(shí)所對(duì)應(yīng)的Z軸高度。通過(guò)逐點(diǎn)或逐線掃描整個(gè)視場(chǎng),并分析每個(gè)像素點(diǎn)光強(qiáng)隨Z軸變化的曲線,就可以重建出樣品表面的三維高度圖。
共聚焦模式對(duì)于漫反射表面,如粗糙的金屬、陶瓷、噴砂面等,通常有較好的適用性。其垂直分辨能力較高,但橫向分辨率主要受限于所用物鏡的數(shù)值孔徑和光源波長(zhǎng)。
白光干涉測(cè)量模式:
這種模式基于白光干涉的原理。系統(tǒng)采用寬帶白光光源(如LED),光線通過(guò)干涉物鏡后,被分束器分為兩路:一路射向參考鏡,一路射向樣品表面。兩路光反射回來(lái)后重新組合,發(fā)生干涉。由于使用的是白光,其相干長(zhǎng)度很短,只有在光程差近乎為零的極小區(qū)域內(nèi)才能觀察到清晰的干涉條紋。當(dāng)系統(tǒng)在垂直方向掃描樣品時(shí),對(duì)于表面每一點(diǎn),當(dāng)樣品光路與參考光路的光程相等時(shí),會(huì)出現(xiàn)一個(gè)干涉信號(hào)的極大值(相關(guān)峰)。通過(guò)精密探測(cè)這個(gè)相關(guān)峰出現(xiàn)的位置,就可以確定該點(diǎn)相對(duì)于參考鏡的高度。
白光干涉模式對(duì)于光滑、連續(xù)的表面,尤其是具有微小臺(tái)階、薄膜結(jié)構(gòu)的表面,測(cè)量速度較快,且具有亞納米級(jí)別的垂直分辨率潛力。它對(duì)鏡面或半鏡面反射表面的測(cè)量效果較好。
S lynx2的技術(shù)集成:
S lynx2將上述兩種技術(shù)的光路和探測(cè)器集成在一個(gè)系統(tǒng)中。用戶可以在軟件中根據(jù)樣品表面的反射特性、粗糙度、所需測(cè)量速度和精度等因素,選擇合適的測(cè)量模式。這種設(shè)計(jì)使得一臺(tái)設(shè)備能夠覆蓋更廣泛的樣品類型和測(cè)量需求。軟件通常具備智能模式推薦功能,可以基于樣品的預(yù)覽圖像,輔助用戶選擇合適的掃描模式。
三維形貌重建過(guò)程:
無(wú)論采用哪種模式,其基本流程都包括:
  1. 垂直掃描:驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)或干涉物鏡在Z軸方向進(jìn)行精密步進(jìn)移動(dòng)。


  2. 數(shù)據(jù)采集:在每一個(gè)Z軸位置,獲取整個(gè)視場(chǎng)的二維強(qiáng)度圖像(對(duì)于白光干涉,是干涉圖;對(duì)于共聚焦,是共聚焦圖像)。


  3. 信號(hào)分析:對(duì)每個(gè)像素點(diǎn)在Z軸掃描過(guò)程中的強(qiáng)度變化曲線進(jìn)行分析。在共聚焦模式下,尋找強(qiáng)度峰值位置;在白光干涉模式下,尋找干涉條紋對(duì)比度最高的位置或通過(guò)相位解算算法確定零光程差點(diǎn)。


  4. 高度圖生成:將所有像素點(diǎn)計(jì)算出的高度值組合起來(lái),就得到了代表樣品表面形貌的數(shù)字高度矩陣,即三維形貌圖。


通過(guò)這種非接觸式光學(xué)掃描,共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2能夠快速、準(zhǔn)確地獲取表面微觀形貌的完整三維信息,為后續(xù)的定量分析提供了數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。

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