布魯克三維輪廓儀ContourX-200規格解讀
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200的技術規格提供了設備性能的基本信息。正確理解這些規格有助于評估設備是否適合特定應用需求。
垂直掃描范圍是指儀器能夠測量的最大高度差。這個參數決定設備能測多高的臺階或多深的溝槽。較寬的掃描范圍適合測量起伏較大的表面，但可能影響測量速度。實際選擇時應考慮樣品最大高度變化，留出適當余量。
垂直分辨率是區分高度微小變化的能力。通常以納米級表示，數值越小分辨率越高。這個參數影響測量超光滑表面或微小起伏的能力。但實際分辨率受環境振動、熱漂移和算法處理等多種因素影響，需在穩定條件下評估。
橫向分辨率取決于物鏡數值孔徑和光源波長。高倍物鏡提供更高橫向分辨率，能分辨更小的表面特征。但高倍物鏡視場較小，需要在分辨率和視場間權衡。實際測量中，橫向分辨率可能受光學衍射限制。
測量重復性指在相同條件下多次測量同一特征的結果一致性。這個參數反映設備的穩定性，對質量控制應用很重要。重復性數據通常在特定條件下使用標準樣品測試得到，實際使用中可能因樣品和環境條件有所不同。
物鏡配置影響測量靈活性。標準配置通常包括多個放大倍率物鏡，如2.5倍、10倍、50倍等。低倍物鏡用于定位和觀察大范圍形貌，高倍物鏡用于細節測量。一些配置提供長工作距離物鏡，適合測量有高度特征的樣品。
樣品臺尺寸和行程決定能容納多大的樣品以及測量區域范圍。電動樣品臺支持自動多點測量和拼接，提高測量效率。載重能力需要考慮樣品重量，超重可能影響掃描精度。
相機規格影響圖像質量和測量速度。高分辨率相機提供更多像素，能獲取更詳細表面信息，但數據量更大。相機幀率影響掃描速度，高幀率相機適合快速測量。動態范圍決定同時捕捉高反射和低反射區域的能力。
光源類型和波長影響測量效果。白光LED光源提供寬光譜，相干長度短，適合垂直掃描干涉。光源強度可調，適應不同反射率表面。一些配置可能提供多波長光源，用于特殊材料測量。
軟件功能是重要組成部分。測量控制軟件應易于操作，支持多種測量模式。分析軟件需提供全面的數據處理工具，符合相關國際標準。報告生成功能要靈活，能輸出所需格式。
環境要求包括溫度、濕度和振動限制。溫度穩定性影響熱漂移，一般要求溫度波動小于一定范圍。濕度太高可能導致光學部件結露。振動會影響干涉測量，需要穩固的工作臺或隔振系統。
校準和維護需求也應考慮。設備需要定期校準保持精度，校準周期和方法應按手冊進行。日常維護包括光學部件清潔、機械部件檢查等。了解這些要求有助于制定維護計劃。
擴展能力可能包括添加共聚焦模塊、電動傾斜臺、環境控制附件等。這些擴展功能能滿足特殊測量需求，選擇時應考慮未來應用可能性。
技術規格是設備選型的重要參考，但實際性能需通過樣品測試驗證。建議用實際樣品或標準樣品進行測試，評估在具體應用條件下的表現。與供應商技術人員討論規格細節和應用案例，能獲得更準確的信息。
布魯克ContourX-200輪廓儀的規格設計考慮了多種應用場景，用戶應根據自身需求重點考察關鍵參數。在預算范圍內選擇合適配置，平衡性能與成本，能使設備發揮應有價值。
布魯克三維輪廓儀ContourX-200規格解讀
當前位置：
上一個：
返回列表
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
產品簡介
產品分類
相關文章